ГОСТ 4.198-85 СПКП. Аппараты рентгеновские аналитические. Номенклатура показателей (с Изменением N 1)

Последнее Обновление Март 14, 2019
< Назад

ГОСТ 4.198-85 СПКП. Аппараты рентгеновские аналитические. Номенклатура показателей (с Изменением N 1)

Дата введения 1987-01-01

Информационные данные

1. РАЗРАБОТАН И ВНЕСЕН Министерством приборостроения, средств автоматизации и систем управления

2. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 30.09.85 г. N 3195

3. ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

4. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ

5. ИЗДАНИЕ с Изменением N 1, утвержденным в августе 1987 г. (ИУС 12-87)

Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества рентгеновских аналитических аппаратов, включаемых в технические задания на научно-исследовательские работы (ТЗ на НИР) по определению перспектив этой группы, государственные стандарты с перспективными требованиями (ГОСТ ОТТ), а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые стандарты на продукцию, технические задания на опытно-конструкторские работы (ТЗ на ОКР), технические условия (ТУ), карты технического уровня и качества продукции (КУ).

Коды рентгеновских аналитических аппаратов, входящих в группу однородной продукции по ОКП:

42 7651 — аппаратура рентгеноструктурная: дифрактометры общего назначения (прецизионные, средней точности, упрощенные), дифрактометры специализированные (текстурные, для исследования монокристаллов, для определения макронапряжений, малоугловые, для исследования в особых условиях — низкотемпературные и высокотемпературные, для исследования реальной структуры кристаллов — на основе детекторов телевизионного типа), аппараты рентгеновские для структурного анализа с фоторегистрацией (с отпаянной рентгеновской трубкой, с вращающимся анодом);

42 7651 — аппаратура рентгеноспектральная: спектрометры кристалл-дифракционные (многоканальные, сканирующие), спектрометры бездифракционные с полупроводниковым детектором, анализаторы рентгеновские;

42 7651 — микроскопы рентгеновские: с фоторегистрацией, анализаторы, рентгенотелевизионные;

42 7651 — аппараты рентгенолюминесцентные: сепараторы люминесцентные;

42 7651 — микроанализаторы рентгеновские;

42 7651 — приборы рентгенофизические: аппараты для исследования тонкой структуры рентгеновских спектров;

42 7658 — приборы рентгенофизические: спектрометры рентгеноэлектронные, спектрометры оже-электронные.

Алфавитный перечень показателей качества продукции приведен в справочном приложении 1.

Термины, применяемые в стандарте, и пояснения к ним приведены в справочном приложении 2.

Примеры расчета некоторых показателей качества продукции приведены в справочном приложении 3.

1. Номенклатура показателей качества рентгеновских аналитических аппаратов

1.1. Номенклатура показателей качества и характеризуемые ими свойства рентгеновских аналитических аппаратов приведены в табл.1.

Таблица 1

1. Показателиназначения

 

 

 

 

 

 

 

2. Показатели надежности

 

3. Показатели экономного использования материалов, энергии

 

4. Эргономические показатели

 

5. Эстетическиепоказатели

 

6. Показателитехнологичности (гост 14.205-83)

 

7. Показатели транспортабельности

 

8. Показателистандартизации и унификации

 

9. Патентно-правовыепоказатели

 

10. Экологическийпоказатель

 

11. Показатели безопасности

Примечания:

1. Основные показатели качества набраны жирным шрифтом.

2. Показатель 1.24 считать основным только при отсутствии встроенного светового микроскопа.

1.2. Показатели качества аппаратов, приведенные в табл.1, могут быть дополнены показателями, которые отражают особенности функционального назначения, области применения и др.

2. Применяемость показателей качества рентгеновских аналитических аппаратов

2.1. Перечень основных показателей качества:

дифрактометров общего назначения (прецизионных, средней точности, упрощенных): диапазон углового перемещения блока детектирования, основная аппаратурная погрешность, допускаемое отклонение блока детектирования от заданного угла поворота, установочная скорость угловых перемещений блока детектирования, оснащенность дополнительными устройствами, автоматическое управление сменой образцов, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных текстурных: диапазонов углового перемещения блока детектирования, основная аппаратурная погрешность, диапазон поворота по углу, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных для исследования монокристаллов: диапазон углового перемещения блока детектирования, допускаемое отклонение блока детектирования от заданного угла поворота, угловая установка кристалла, погрешность угловой установки кристалла, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных для исследования реальной структуры кристаллов (на основе детекторов телевизионного типа): рабочая площадь входного окна детектора, линейное разрешение, контрастная чувствительность, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных для определения макронапряжений: диапазон рабочих углов, среднее квадратическое отклонение от среднего значения измеряемых деформаций, осциллирование блока детектирования сцинтилляционного, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных малоугловых: диапазон рабочих углов, разрешение, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных для исследования в особых условиях (низкотемпературных, высокотемпературных): интервал рабочих температур, при которых исследуется образец, погрешность регулирования заданной температуры, наличие автоматизации управления и обработки данных, наименьшее давление в рабочем объеме, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

аппаратов рентгеновских для структурного анализа с фоторегистрацией (с отпаянной рентгеновской трубкой, с вращающимся анодом): удельная нагрузка на действительное фокусное пятно рентгеновской трубки, нестабильность анодного напряжения и тока, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

спектрометров кристалл-дифракционных многоканальных: основная апларатурная погрешность, диапазон анализируемых элементов, максимальное количество одновременно анализируемых элементов, время одного цикла (ввод пробы, измерение, вывод пробы), скорость счета на линии на контрольном образце, контрастность, наличие сканирующего канала, автоматическое управление сменой образцов, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

спектрометров кристалл-дифракционных сканирующих: основная аппаратурная погрешность, диапазон анализируемых элементов, скорость счета на линии на контрольном образце, контрастность, автоматическое управление сменой образцов, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

спектрометров бездифракционных с полупроводниковым детектором: основная аппаратурная погрешность, диапазон анализируемых элементов, скорость счета на линии на контрольном образце, автоматическое управление сменой образцов, наличие автоматизации управления и обработки данных, спектральное разрешение (энергетическое), установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

анализаторов рентгеновских: основная аппаратурная погрешность, диапазон анализируемых элементов, максимальное количество одновременно анализируемых элементов, скорость счета на линии на контрольном образце, контрастность, предел обнаружения, автоматическое управление сменой образцов, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

микроскопов рентгеновских (с фоторегистрацией, анализаторов, рентгенотелевизионных): номинальная мощность рентгеновской трубки, увеличение, линейное разрешение, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

аппаратов рентгенолюминесцентных: извлечение минерала, производительность на классе крупности, выход материала на отсечку, класс крупности обрабатываемого материала, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

микроанализаторов рентгеновских: максимальное количество одновременно анализируемых элементов, скорость счета на линии на контрольном образце, линейное разрешение, диапазон анализируемых элементов, диапазон ускоряющих напряжений, наименьшее увеличение в растровом режиме, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

спектрометров рентгеноэлектронных: разрешение спектральное (энергетическое), воспроизводимость положения линии спектра, скорость счета на линии на контрольном образце, контрастность, наименьшее давление в рабочем объеме, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

спектрометров оже-электронных: отношение сигнал/шум, линейное разрешение, спектральное разрешение (энергетическое), наименьшее давление в рабочем объеме, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

аппаратов для исследований тонкой структуры рентгеновских спектров: диапазон исследуемого излучения, воспроизводимость положения линии спектра, спектральное разрешение (волновое, энергетическое), наименьшее давление в рабочем объеме, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность.

2.2. Применяемость показателей качества по подгруппам однородной продукции для рентгеноструктурной аппаратуры приведена в табл.2, рентгеноспектральной — в табл.3, микроскопов рентгеновских, аппаратов рентгенолюминесцентных, микроанализаторов рентгеновских — в табл.4, приборов рентгенофизических — в табл.5.

Применяемость показателей качества аппаратов рентгеновских аналитических, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития, ГОСТ ОТТ, в разрабатываемые и пересматриваемые стандарты на продукцию, ТУ, КУ, ТЗ на ОКР, приведена в табл.6.

Таблица 2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Таблица 3

 

 

Таблица 4

 

 

 

Таблица 5

 

 

Таблица 6

 

 

 

 

Примечание к табл.2-6. Знак «+» означает применяемость, знак «-» — неприменяемость, знак «±» — ограниченную применяемость (в технически обоснованныхслучях) соответствующих показателей качества.

Приложение 1

(справочное)

Алфавитный перечень показателей

Номер показателя по табл.1

 

 

 

 

 

 

Приложение 2

(справочное)

Термины, применяемые в стандарте, и пояснения к ним

 

ПРИЛОЖЕНИЯ 1, 2. (Измененная редакция, Изм.N 1).

Приложение 3

(справочное)

Примеры определения некоторых показателей качества продукции

1. Показатели стандартизации и унификации

Для оценки уровня унификации изделий приборостроения устанавливают следующие показатели:

коэффициент применяемости по типоразмерам ;

коэффициент применяемости по себестоимости ;

коэффициент повторяемости .

1.1. Коэффициент применяемости по типоразмерам (п.8.1 табл.1) в процентах определяют по формуле

(1)

где — общее количество типоразмеров составных частей изделия;

— количество типоразмеров оригинальных составных частей изделия.

Перечень типоразмеров соответствует спецификации сборочных единиц.

1.2. Коэффициент применяемости по себестоимости (п.8.1 табл.1) в процентах определяют по формуле

(2)

где — стоимость всех составных частей изделия, руб;

— стоимость оригинальных составных частей изделия, руб.

1.3. Коэффициент повторяемости составных частей (п.8.2 табл.1) в процентах определяют по формуле

(3)

где — общее количество составных частей изделия;

— общее количество типоразмеров составных частей изделия.

Добавить комментарий

Ваш e-mail не будет опубликован. Обязательные поля помечены *

Авторизация
*
*
Регистрация
*
*
Номер телефона без знака «+», например «79876543210». На указанный номер будет выслан код подтверждения.

*
Нажимая кнопку "Зарегистрироваться" Вы даете согласие на обработку персональных данных в соответствии с "Пользовательским соглашением".
Генерация пароля